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不同測(cè)試環(huán)節(jié)的測(cè)試參數(shù)和應(yīng)用場(chǎng)景稍有區(qū)別。晶圓測(cè)試的對(duì)象是未劃片的整個(gè)晶圓，屬于在前端工序中對(duì)半成品的測(cè)試，目的是監(jiān)控前道工藝良率，并降低后道封裝成本。而成品測(cè)試是對(duì)完成封裝的集成電路產(chǎn)品進(jìn)行后的質(zhì)量檢測(cè)，主要是針對(duì)芯片應(yīng)用方面的測(cè)試，有些甚至是待機(jī)測(cè)試，以保證出廠產(chǎn)品的合格率。CP測(cè)試與成品測(cè)試的測(cè)試參數(shù)大體是相似的，但由于探針的容許電流有限，CP測(cè)試通常不能進(jìn)行大電流測(cè)試項(xiàng)。此外，CP測(cè)試的常見室溫為25℃左右，而成品測(cè)試有時(shí)需要 在75-90℃的溫度下進(jìn)行。
半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè) , cass鹽霧試驗(yàn)方法
國軍標(biāo)測(cè)試、gjb150可靠性檢測(cè)、檢測(cè)環(huán)境可靠性測(cè)試、汽車電子產(chǎn)品檢測(cè)
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萬博檢測(cè)從事第三方公正檢測(cè)、咨詢服務(wù)。公司擁有的檢測(cè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)與經(jīng)驗(yàn)豐富高素質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室管理人員。 萬博檢測(cè)已建設(shè)成為一個(gè)集環(huán)境可靠性試驗(yàn)、材料性能測(cè)試、電磁兼容（EMC）、安規(guī)測(cè)試、化學(xué)分析、理化檢測(cè)為一體的大型綜合性檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。服務(wù)能力覆蓋軍用/民用、電子電器、汽車、材料、航空航天、通用設(shè)備、船舶、機(jī)械、醫(yī)療器械、紡織玩具、橡膠塑料、運(yùn)輸包裝等應(yīng)用領(lǐng)域，現(xiàn)有規(guī)模、測(cè)試能力和水平處于行內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的高水平。 ...