原理概述

導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測(cè)介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來(lái)。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與被測(cè)介質(zhì)的距離成正比。

產(chǎn)品特點(diǎn)

由于采用了先進(jìn)的微處理芯片和獨(dú)特的回波放大處理技術(shù)，導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)排除其他因素干擾，可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。

多種過(guò)程連接方式及探測(cè)組件的型式，使得L329-C18系列導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)適用于各種復(fù)雜工況及應(yīng)用場(chǎng)合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。

采用脈沖工作方式，導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對(duì)人體及環(huán)境均傷害。

原理說(shuō)明：

導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過(guò)電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。

測(cè)量說(shuō)明：

H--測(cè)量范圍

L----空罐距離

B----頂部盲區(qū)

E----探頭到罐壁的Zui小距離

頂部盲區(qū)是指物料Zui高料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的Zui小距離

底部盲區(qū)是指纜繩Zui底部附近無(wú)法jingque測(cè)量的一段距離。

頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有限測(cè)量距離。

注意：

只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)，才能保證罐內(nèi)物位的可靠測(cè)量。

反射的脈沖信號(hào)沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由脈沖軟件完成，距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比：

D=C×T/2 其中C為光速

因空罐的距離E已知，則物位L為：

L=E-D通過(guò)輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境，對(duì)應(yīng)于4－20mA輸出。