analyst ems12kn開放式電路板測(cè)試系統(tǒng)
checksum analyst ems12kn 開放式電路板測(cè)試系統(tǒng)是設(shè)計(jì)用于所有電路板的開放式測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)可提供單板或聯(lián)片板的ict 測(cè)試、芯片編程、邊界掃描和功能測(cè)試的平臺(tái)。

　　analyst ems 12kn開放式電路板測(cè)試系統(tǒng)-國產(chǎn)精品制服絲襪第一頁_纖細(xì)的愛無增刪櫻花帶翻譯歌曲設(shè)計(jì)用于測(cè)試大部分單面或雙面 smt/通孔電路板?？蔀楝F(xiàn)今制造的大部分模擬或數(shù)字電路板裝配進(jìn)行有效的不加電測(cè)試。

　　雙層探測(cè)技術(shù)和可選加電功能測(cè)試適合包含某些數(shù)字電路的低頻模擬電路板。

　　analyst ems12kn開放式電路板測(cè)試系統(tǒng)無需使用電源便可測(cè)試整塊電路板或單獨(dú)元器件。使用如dc或復(fù)合阻抗測(cè)量的測(cè)量技術(shù)與多點(diǎn)式監(jiān)護(hù)，該系統(tǒng)可發(fā)現(xiàn)如短路、開路及錯(cuò)誤或不正確安裝元器件等的大部分故障。在電路板處于安全不加電模式時(shí)發(fā)現(xiàn)大部分不良，并結(jié)合具體的故障診斷信息，不良電路板可獲得迅速修復(fù)。

　　產(chǎn)品特點(diǎn)

　　? 測(cè)試點(diǎn)數(shù)Zui多可達(dá) 5200 點(diǎn)、待測(cè)電路板的尺寸Zui大可至 61 x 33.5 厘米的全面在線測(cè)試

　　? 雙層探測(cè)技術(shù)可提供ict測(cè)試和獨(dú)立功能測(cè)試

　　? 雙層夾具沒有額外費(fèi)用

　　? multiwriter*芯片編程、多達(dá) 384 塊芯片的同步編程

　　? corelis, asset, jtag 和 goepel 的邊界掃描運(yùn)行環(huán)境

　　? 可提供 testjet 技術(shù)

　　? 全集成 checksum windows 測(cè)試系統(tǒng)軟件環(huán)境

　　? 符合人體工學(xué)的滑入式夾具設(shè)計(jì)、夾具上下鎖定確保安全操作

　　? 光電保護(hù)全面保證操作人員的安全

　　? 內(nèi)置 spc 測(cè)量工具;便于工廠數(shù)據(jù)系統(tǒng)集成

　　? 集成機(jī)架/機(jī)箱的快速平穩(wěn)按壓驅(qū)動(dòng)方式

　　滑入式治具頂部和底部確保不同機(jī)種的換線在很短的時(shí)間內(nèi)完成。

　　一旦操作員將待測(cè)電路板 (uut) 的定位孔放在治具定位柱上并按下測(cè)試鍵，系統(tǒng)的壓床會(huì)自動(dòng)下降至 ict位置使探針與測(cè)試點(diǎn)充分接觸。為確保操作員安全，如果光電保護(hù)探測(cè)到任何物體，壓床會(huì)立刻停止運(yùn)行。

　　如有需要，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將壓床移至功能測(cè)試位置，以使只用于芯片編程、邊界掃描或功能測(cè)試的探針與待測(cè)電路板的測(cè)試點(diǎn)接觸。

　　測(cè)試結(jié)束后，系統(tǒng)顯示測(cè)試結(jié)果而壓床會(huì)自動(dòng)抬起，以便移走測(cè)試結(jié)束的電路板。

規(guī)格簡述：12kn 氣動(dòng)治具系統(tǒng)特色

　　? 與現(xiàn)有 checksumc 和c 治具兼容 ?

　　? 治具 kit28 Zui大的可測(cè)尺寸約為 61 x 33.5 厘米;多達(dá) 28 個(gè)接口 (每個(gè)接口涵蓋200個(gè)測(cè)試點(diǎn) )

　　? 治具 kit20 Zui大的可測(cè)尺寸約為 40.6 x 33.5 厘米;多達(dá) 20 個(gè)接口 ( 每個(gè)接口涵蓋200 個(gè)測(cè)試點(diǎn) )

　　? 氣缸提供高達(dá) 2700 鎊 (12000 牛頓 ) 壓力

　　? 系統(tǒng)小占地面積：114 x 102 厘米機(jī)箱內(nèi)并備有 7u 儲(chǔ)存架區(qū)供客戶放置選定儀器

　　? 符合 ce

系統(tǒng)特有信息

　　? 3200 個(gè)測(cè)試點(diǎn)、Zui多可達(dá) 5200 個(gè)?

　　? multiwriter 芯片編程選項(xiàng)? 邊界掃描 (asset, corelis, jtag,goepel) 選項(xiàng)

　　? testjet 技術(shù)

　　? 功能測(cè)試和數(shù)字 i/o 選項(xiàng)

　　? 多電源選項(xiàng)

系統(tǒng)軟件

　　? windows 可視編程測(cè)試執(zhí)行程序

　　? 全面在線幫助

　　? 強(qiáng)大的ict的功能

　　? 可上電的功能測(cè)試

　　? visual studio? 和 labwindows/cvi? 鏈接

　　? 可視化測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行程序包括：

　　    ? 統(tǒng)計(jì)過程控制 (spc) 工具

　　    ? 測(cè)試程序生成工具

　　    ? 測(cè)試程序驗(yàn)證工具

　　    ? 多聯(lián)片電路板面板支持

本產(chǎn)品的類型是開放式電路板測(cè)試系統(tǒng)，品牌為CHECKSUM，型號(hào)是Analystems12K