中山包裝跌落測(cè)試 跌落測(cè)試報(bào)告  

跌落測(cè)試

跌落高度、跌落次數(shù)以及跌落方向?qū)υ囼?yàn)反映試驗(yàn)嚴(yán)格程度。對(duì)于不同的產(chǎn)品guojibiaozhun規(guī)范的跌落方式和跌落高度要求不同。對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。

根據(jù)參考標(biāo)準(zhǔn)，跌落面為混凝土或者鋼制的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面，或者必要時(shí)候?yàn)槠渌孛?，如大理石地面等?/p>

包裝跌落測(cè)試

包裝跌落測(cè)試一般要求，跌落方式為一角三邊六面自由跌落。

角跌落：跌落后，測(cè)試角撞擊接觸平面;

邊跌落：將樣板底面傾斜致水平20°角，然后將其抬高至測(cè)試高度再跌落，其邊撞擊接觸平面;

面跌落：需使測(cè)試樣板跌落后其平面直接撞擊接觸平面。

包裝跌落測(cè)定外箱或內(nèi)盒之強(qiáng)度及產(chǎn)品包裝之牢固性等方面是否符合品質(zhì)要求。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落》。

IEC60068-2-32《自由跌落試驗(yàn)方法》。

GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法。

ASTM D 5276-98(2009)