ux-800p 二次靶 華唯
產(chǎn)品介紹:
采用三維立體光路,實現(xiàn)劃時代的創(chuàng)新,針對元素的檢測,可靠性、抗干擾性、精度、檢出限,有了革命性的突破,全面提升了產(chǎn)品性能。
1) 世界級先進技術:
1、 二次靶技術:
二次靶技術:如圖所示:圖1a是從x光管出射的原級x射線。圖1b是使用濾光片的出射譜。圖1c為二次靶出射譜,很明顯二次靶技術使散射背景很弱,而弱的散射背景使得樣品出射譜的散射背景強度很低。
2、空間三維立體光路:根據(jù)偏振光的特性安排的空間立體光路。我們讓原級x射線以45°入射角入射到二次靶上,二次靶上出射的散射 (反射)線再以45°角入射到樣品。這樣的空間三維立體光路起到一個除去二次靶材散射背景的作用,使散射背景大大降低。
3、ux-800p應用了精心設計的濾光片,基本做到單色激發(fā)。
4、高管壓x光管,結合偏振二次靶的作用,使cd、sb、ba等元素的檢出限大大降低。
譜圖對比:圖2和圖3分別為傳統(tǒng)edxrf儀器和ux-800p測塑膠樣品的譜圖的對比。從圖2圖3中不難看出,與傳統(tǒng)的edxrf ux-220相比,ux-800p的散射背景明顯降低,各個待測有害元素特征峰的峰背比都有了顯著的改善,尤其以cd和crZui為明顯。
圖2.傳統(tǒng)edxrf檢測歐盟pe標樣譜圖
圖3.偏振二次靶ux-800p檢測歐盟標樣譜圖
p3:解決產(chǎn)業(yè)六大難題:
1、解決高溴中的pb、hg檢測,檢測均下限低于20ppm,從圖4可以看出,即使20ppm的pb,也能可靠穩(wěn)定的檢測出來,并且線性相當不錯。
圖4.ux-800p含檢測10%br的pe樣品
2、 解決錫中的cd檢測,檢測下限低于20ppm,圖5是 環(huán)保焊錫中200ppm以下cd的檢測,使用傳統(tǒng)的edxrf幾乎是不可能的,但采用ux-800p,可以對焊錫中的20ppm的cd進行穩(wěn)定可靠的檢測,完全可以滿足rohs要求。
圖5.是 環(huán)保焊錫中200ppm以下cd的檢測
3、能對含pb同時含as的樣品進行準確檢測,如圖6 ux-800p經(jīng)過合適的配置,可以準確地檢測as的含量,進而可以準確計算pb的含量。
圖6. ux-800p檢測含pb同時含as的樣品
4、 應對玩具指令中的八大重金屬進行高精度檢測,檢測下限均達到10ppm(如圖7)
圖7. ux-800p測試玩具八大重金屬譜圖
5、能對含有高含量bi樣品中的pb進行準確檢測;
6、能對含有很高的ti的樣品中的cl進行準確檢測;
以上幾種是目前傳統(tǒng)xrf儀器無法解決的難題,ux-800p徹底解決了。而ux-800p功能遠不止這些,它能廣泛地應對各種環(huán)保指令包括rohs、en71、astm-f963、reach等等。
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