SMT電子零件SEM-EDS分析
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掃描電鏡和能譜分析，簡(jiǎn)稱(chēng)SEM-EDS分析，可對(duì)金屬材料、高分子材料、納米材料、電子制造、半導(dǎo)體器件微區(qū)表面形貌、結(jié)構(gòu)觀察、元素成分分析的技術(shù)手段。
SEM掃描電鏡分析：利用陰極所發(fā)射的電子束經(jīng)陽(yáng)極加速，由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流，這束高能電子束轟擊到樣品表面會(huì)激發(fā)多種信息，經(jīng)過(guò)分別收集，放大就能從顯示屏上得到各種相應(yīng)的圖像。SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來(lái)成像，可以對(duì)陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析。
EDS能譜分析：X-ray energy dispersive，入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對(duì)試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)各種信號(hào)。
EDS通過(guò)特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。優(yōu)爾鴻信，擁有獨(dú)立電鏡實(shí)驗(yàn)室，面向全國(guó)，提供掃描電鏡SEM與EDS分析測(cè)試服務(wù)，寄樣即測(cè)。
可靠性失效分析 , 芯片檢測(cè) , 信號(hào)眼圖測(cè)試 , 電子連接器測(cè)試 , 電容失效分析
電子零組件檢測(cè),汽車(chē)材料零部件測(cè)試,化學(xué)成分分析,金屬檢測(cè),塑料可回收驗(yàn)證測(cè)試,可靠性失效分析,EMC電磁兼容測(cè)試,等第三方實(shí)驗(yàn)室技術(shù)服務(wù),
實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)、校準(zhǔn)，檢驗(yàn)，產(chǎn)品認(rèn)證，管理體系認(rèn)證，檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)及咨詢(xún)服務(wù)，貨物及技術(shù)進(jìn)出口。
優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)（深圳）有限公司，原富士康華南檢測(cè)中心，成立于1996年，是一家提供工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品檢測(cè)和失效分析解決方案的大型實(shí)驗(yàn)室。優(yōu)爾鴻信在深圳、昆山、武漢、重慶、成都、煙臺(tái)、松山湖等地設(shè)有分支檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)。 優(yōu)爾鴻信依托富士康科技集團(tuán)的強(qiáng)大技術(shù)背景和資源優(yōu)勢(shì)，提供包括材料分析、成分分析、金相分析、失效分析、耐腐蝕試驗(yàn)等在內(nèi)的多種檢測(cè)服務(wù)。公司已經(jīng)建立了七大功能22個(gè)的實(shí)驗(yàn)室，占地6.6萬(wàn)平方米，擁有4300余臺(tái)（套）檢測(cè)設(shè)備和20...