發(fā)布與實(shí)施：該標(biāo)準(zhǔn)于2016年4月25日發(fā)布，2017年3月1日實(shí)施，由中國(guó)建筑材料聯(lián)合會(huì)提出，全國(guó)建筑衛(wèi)生陶瓷標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC249）歸口。

適用范圍：適用于所有建筑裝飾用陶瓷磚，包括瓷質(zhì)磚、炻瓷磚、細(xì)炻磚、炻質(zhì)磚及陶質(zhì)磚等。

檢驗(yàn)?zāi)康模簻y(cè)量陶瓷磚的實(shí)際長(zhǎng)度和寬度、厚度等，確保符合標(biāo)稱尺寸。

檢驗(yàn)方法：

長(zhǎng)度和寬度：使用精度≥0.1mm的游標(biāo)卡尺或激光測(cè)距儀，沿磚體中心線及邊緣測(cè)量多點(diǎn)取平均值。在離磚角點(diǎn)5mm處測(cè)量磚的每條邊，測(cè)量值到0.1mm。正方形磚的平均尺寸是4條邊測(cè)量值的平均值，長(zhǎng)方形磚尺寸以對(duì)邊兩次測(cè)量值的平均值作為相應(yīng)的平均尺寸。

厚度：測(cè)量磚四角及中心厚度，Zui大偏差應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求（如≤±5%）。

允許偏差：

優(yōu)等品：長(zhǎng)度和寬度偏差≤±0.5%，合格品≤±0.8%（如600mm磚長(zhǎng)偏差≤±3mm）。

厚度偏差：根據(jù)磚的厚度和等級(jí)有所不同，如10mm厚磚允許±0.5mm偏差。

檢驗(yàn)?zāi)康模涸u(píng)估陶瓷磚表面的缺陷情況，確保符合質(zhì)量要求。

檢驗(yàn)內(nèi)容：包括裂紋、斑點(diǎn)、落臟、色差等自然缺陷，以及仿古、釉面紋理等工藝效果一致性。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

優(yōu)等品：1m距離目視無(wú)可見(jiàn)缺陷。

合格品：允許輕微瑕疵，但總面積≤5%。

具體缺陷分類與界定：

裂紋：在磚的表面、背面或兩面可見(jiàn)的裂紋。

釉裂：僅在釉層上出現(xiàn)微細(xì)裂紋，坯體并未開(kāi)裂。

缺釉：施釉磚釉面局部無(wú)釉。

不平整：在磚或釉面上非人為的凹陷。

針孔：施釉磚表面的如針狀的小孔。

斑點(diǎn)：磚的表面有明顯可見(jiàn)的非人為異色點(diǎn)。

釉下缺陷：被釉面覆蓋的明顯缺點(diǎn)。

裝飾缺陷：在裝飾方面的明顯缺點(diǎn)。

磕碰：產(chǎn)品因碰擊致使局部殘缺。

釉泡：表面的小氣泡或燒結(jié)時(shí)釋放氣體后的破口泡。

毛邊：磚的邊緣有非人為的不平整。

釉縷：沿磚邊有明顯的釉堆集成的隆起。

拋痕：產(chǎn)品拋光時(shí)拋光面產(chǎn)生的模具擦劃痕跡。

檢驗(yàn)設(shè)備：包括游標(biāo)卡尺、激光測(cè)距儀、直角尺、塞尺、平臺(tái)等。

試樣制備：每種類型取10塊整磚進(jìn)行測(cè)量。試樣需去除包裝，在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下（溫度20±5℃，濕度50±10%）放置24小時(shí)，確保狀態(tài)穩(wěn)定。

保障工程質(zhì)量：通過(guò)嚴(yán)格把控陶瓷磚的尺寸和表面質(zhì)量，有助于減少因尺寸偏差或表面缺陷導(dǎo)致的產(chǎn)品安裝問(wèn)題，保障工程質(zhì)量。

推動(dòng)行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展：該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一了陶瓷磚尺寸和表面質(zhì)量的檢驗(yàn)方法，解決了以往不同企業(yè)測(cè)試方法各異、數(shù)據(jù)無(wú)可比性的問(wèn)題，為生產(chǎn)企業(yè)提供明確的質(zhì)量控制依據(jù)，推動(dòng)行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

促進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新：隨著陶瓷磚生產(chǎn)工藝的不斷升級(jí)和新型產(chǎn)品的不斷涌現(xiàn)，該標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)細(xì)化試樣要求、優(yōu)化檢驗(yàn)步驟、改進(jìn)計(jì)算方法等措施，提高了測(cè)試的精準(zhǔn)度和科學(xué)性，為技術(shù)創(chuàng)新提供了有力支持。