OPGW接頭盒把進(jìn)纜固定、密封和內(nèi)部光纖接續(xù)放在同一裝配中，核驗不能只看盒體完整。YD/T814.2-2005是本次選定依據(jù)，源表括號保留但不推成新版。上海復(fù)興復(fù)華檢測可先與客戶核對接頭盒、進(jìn)纜和盤纖資料，再溝通光學(xué)、密封及機(jī)械環(huán)境項目，確認(rèn)實(shí)際檢測范圍和報告用途。

檢測對象項目/參數(shù)檢測標(biāo)準(zhǔn)（方法）序號名稱

光纖復(fù)合架空地線接頭盒		全部項目	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017)
	1	外觀	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.6
	2	光學(xué)性能	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.8
	3	密封性能	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.9
	4	再封裝性能	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.10
	5	拉伸	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.11.2
	6	壓扁	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.11.3
	7	沖擊	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.11.4
	8	彎曲	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.11.5
	9	扭轉(zhuǎn)	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.11.6
	10	溫度循環(huán)	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.12.1
	11	持續(xù)高溫	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.12.2
	12	振動	光纜接頭盒 第2部分:光纖復(fù)合架空地線接頭盒YD/T 814.2-2005(2017) 5.12.3

外觀

接頭盒外觀先在完整交貨及裝配狀態(tài)記錄，殼體、接縫、進(jìn)纜口和固定附件分別識別。OPGW金屬結(jié)構(gòu)與盒內(nèi)光纖不是同一觀察對象，不能只看盒體外殼平整就推定內(nèi)部接續(xù)及盤纖布局均未受影響。

照明與觀察角度應(yīng)支持接口、密封面和固定件的真實(shí)狀態(tài)，運(yùn)輸擦傷與材料裂口按形貌分開描述。對疑似開口改變觀察角度復(fù)看，外殼接縫的陰影與材料裂紋分開定位，不把明暗邊界直接分類為損傷。若客戶已開盒，應(yīng)說明原封裝狀態(tài)是否可追溯；拆裝造成的新鮮痕跡不宜倒寫成原交貨缺陷。

照片保留整體安裝參照和局部尺度，異常位置與后續(xù)密封、拉伸或振動檢查相連。開盒照片保留密封件與托盤的安裝位置，試后零件已經(jīng)移動時，不能憑新位置猜寫其原裝配狀態(tài)。盒體編號、進(jìn)纜方向和內(nèi)部托盤位置明確后，試后再次觀察才能判斷變化是否發(fā)生在同一區(qū)域，而非比較不同裝配照片。

外觀檢查形成裝配基線，不獨(dú)立證明氣密、水密或光學(xué)指標(biāo)正常。無法到達(dá)或已經(jīng)修整的區(qū)域列明證據(jù)限制，鄰近正常圖像不能補(bǔ)證未觀察內(nèi)部部件完好。受控2005版及訂貨附加要求決定接受判斷，圖像中的可見狀態(tài)與未觀察內(nèi)部區(qū)域分開說明，不將一次局部檢查擴(kuò)大成全部功能評價。

光學(xué)性能

光學(xué)基線應(yīng)對應(yīng)具體光纖、接續(xù)點(diǎn)和盤纖布局，光源接收或確認(rèn)的時域路線先明確參考面。OPGW接頭盒裝配前后的測量狀態(tài)不能隨意混比，連接器清潔和儀器重復(fù)性先檢查，避免測量漂移掩蓋裝配影響。

按受控方法核清實(shí)際評價量、波長和測量節(jié)點(diǎn)后再操作，不從光學(xué)性能合稱自行補(bǔ)充全部傳輸參數(shù)。引出光纖的接觸和彎曲狀態(tài)固定，重插測量連接時保持盒內(nèi)布局不變，幫助識別測量端變化。機(jī)械或環(huán)境作用中需要監(jiān)測的量與裝配基線保持同一接續(xù)關(guān)系，引出光纖布置也不額外產(chǎn)生彎曲。

接續(xù)圖、參考值和過程光學(xué)數(shù)據(jù)一并留存，變化節(jié)點(diǎn)與載荷、溫度或拆裝時序?qū)?yīng)。參考測量和受試測量的樣品標(biāo)識連續(xù)，不能把另一根光纖的低損耗記錄換入有異常的光路。若重新插拔連接后出現(xiàn)變化，應(yīng)先排查端面和參考狀態(tài)；不能選擇一次較低損耗就代表盒內(nèi)接續(xù)在整個過程中穩(wěn)定。

光學(xué)異?？缮婕叭劢印⒈P纖彎曲、托盤移動或測量端污染，需要逐層排查而非只命名為接頭盒失效。讀數(shù)接近接受邊界時審閱重復(fù)性與判定規(guī)則，測試系統(tǒng)漂移不能無說明地從受試變化量中扣除。原版具體指標(biāo)和接受值需受控確認(rèn)，現(xiàn)代IEC背景不自動替代YD舊版，也不證明整個OPGW線路傳輸性能。

密封性能

密封核驗先記錄殼體接縫、進(jìn)纜口、密封件及閥件的實(shí)際安裝，OPGW外部幾何與進(jìn)纜適配信息一并保留。檢漏介質(zhì)和施加路線來自受控2005版，不因為項目叫密封就默認(rèn)采用氣泡觀察或任意浸水。

裝置自身泄漏及連接誤差需要與受試件分開，實(shí)際施加量和測量回路有可復(fù)核記錄。連接測試管路后復(fù)查本底，臨時管接件泄漏與進(jìn)纜口異常有不同位置證據(jù)，不能統(tǒng)稱盒體失密。接口裝配如果與實(shí)際產(chǎn)品要求不同，會改變檢驗含義；不得通過臨時加固或額外封堵未說明地改善受試狀態(tài)。

異常定位應(yīng)區(qū)分進(jìn)纜口、盒體接縫及測試回路，保存施加過程、讀數(shù)節(jié)點(diǎn)和位置證據(jù)。施加量和讀數(shù)間的等待過程按確認(rèn)方法記錄，無法穩(wěn)定時先查裝置，不以延長等待自行改變程序。若裝置本底無法穩(wěn)定，應(yīng)先處理系統(tǒng)問題，不把讀數(shù)變化直接歸為盒體失密；拆裝后還需建立新的獨(dú)立記錄。

密封表現(xiàn)僅覆蓋所選安裝和檢驗條件，不能自動給出長期戶外防護(hù)或完整等級結(jié)論?；蛑匦路舛潞蟮难a(bǔ)測另列，原始異常與處理范圍保留，不能把處理后結(jié)果倒寫成初裝表現(xiàn)。即便密封檢查正常，光學(xué)及機(jī)械項目仍有各自評價用途，受控方法未核驗的介質(zhì)、壓力和時段不得從其他盒體項目遷移。

再封裝性能

接頭盒可能在維護(hù)時重新打開，再封裝評價需要獨(dú)立的初裝光學(xué)和密封基線。開盒前記錄進(jìn)纜、托盤、密封件及緊固狀態(tài)，使后續(xù)變化可以對應(yīng)具體拆裝步驟，不能只在重新封好后補(bǔ)拍一張整體照片。

拆開和程序、允許更換的部件及復(fù)用條件由受控版本確認(rèn)，不假定所有密封件均可重復(fù)使用。拆下零件按原位置標(biāo)識，密封件方向改變或托盤重新排列應(yīng)記錄，避免后無法追查具體差異。清理密封面時避免損傷，盤纖重新安置也需保留布局，操作過程不能為了外觀整齊而壓緊光纖。

再封裝完成后按原方法規(guī)定取得新的密封和光學(xué)等檢查記錄，不沿用初裝通過結(jié)論。若更換部件后復(fù)測，明確新舊部件界限，不能把更換后的正常結(jié)果歸為原件具有可重復(fù)封裝能力。若發(fā)生接口狀態(tài)或光學(xué)變化，將其與密封面、壓緊安排及盤纖位置聯(lián)系，獨(dú)立保存再裝前后的圖像和測量數(shù)據(jù)。

能順利開合不等于功能恢復(fù)，再封裝項目也不是任意次數(shù)維護(hù)壽命保證。一次操作中未見異常僅覆蓋該次裝配，其他維護(hù)程序或復(fù)用方式需要獨(dú)立依據(jù)，不能自然擴(kuò)展次數(shù)。接受比較需對應(yīng)實(shí)際部件和操作條件，試驗次數(shù)及組合從受控2005版取得，不能因一次再裝無異常就推定全部后續(xù)維護(hù)均可靠。

拉伸

拉伸對象是確認(rèn)的進(jìn)纜與接頭盒連接配置，不是對盒體材料做常規(guī)抗拉強(qiáng)度試驗。收樣時記錄OPGW固定、進(jìn)纜方向和內(nèi)部盤纖基線，使力的作用位置與需要觀察的接口及光纖狀態(tài)相互對應(yīng)。

固定端與加載端布置按受控方法確認(rèn)，不能讓光學(xué)引線或臨時輔助件承擔(dān)部分載荷。試前標(biāo)記接口與固定件相對位置，觀察位移來自纜夾滑移還是裝置變形，不能僅看機(jī)器行程。施加過程中監(jiān)視實(shí)際拉力、位移和確認(rèn)的光學(xué)量，觀察進(jìn)纜滑移與殼體變化，不從OPGW額定強(qiáng)度反推試驗載荷。

過程記錄將載荷節(jié)點(diǎn)、接口位移及光學(xué)變化同步對應(yīng)，卸載后檢查固定件和密封界面。載荷中斷和卸載節(jié)點(diǎn)與光學(xué)讀數(shù)對應(yīng)，恢復(fù)后正常不抹去過程變化，原變化的形成時序仍需審閱。若夾具滑動，應(yīng)區(qū)分裝置失穩(wěn)與進(jìn)纜自身滑移，不把所有位移合稱為接頭盒變形；異常位置照片支持復(fù)核。

拉伸說明指定安裝下的連接響應(yīng)，不等于整根OPGW拉斷力或現(xiàn)場所有張力工況。存在預(yù)損傷的試樣與原始樣分開說明，不能把此前壓扁或拆裝造成的變化直接歸于本次拉伸。異?？蓙碜岳|夾、固定部位或內(nèi)部盤纖受力，原因需要證據(jù)逐項排查，源版具體載荷及后續(xù)檢查組合不能由對象名稱猜定。

壓扁

壓扁核驗針對受控方向上的盒體受壓響應(yīng)，初始裝配方位、支承和內(nèi)部托盤狀態(tài)記錄清楚。殼體局部薄弱處與實(shí)際作用區(qū)域需對應(yīng)，不因為某處容易變形就自行改變測試位置或把材料片替代整盒。

壓板和支承形成明確的受力路徑，加載時監(jiān)視實(shí)際壓縮量或載荷及確認(rèn)的功能數(shù)據(jù)。受力面接觸后檢查是否偏斜，盒體傾轉(zhuǎn)與有效壓縮分開監(jiān)測，不能只憑壓板下移量計算殼體變形。支架移動與盒體變形是不同現(xiàn)象，光學(xué)引線不應(yīng)成為附加支承，也不能在受力中被夾緊產(chǎn)生新的測量損耗。

記錄殼體壓陷位置、過程光學(xué)變化及卸載后狀態(tài)，規(guī)定的后續(xù)密封或其他檢查需獨(dú)立完成。卸載取樣不進(jìn)一步壓擠托盤，試后新產(chǎn)生的移動與加載期間變化分別記錄，以免破壞時序證據(jù)。若托盤或進(jìn)纜部位發(fā)生位移，保留其與作用方向的關(guān)系，不僅用外殼是否破裂描述全部受壓結(jié)果。

壓扁是持續(xù)壓縮路線，與瞬態(tài)沖擊不能互相替代。局部外殼凹陷與內(nèi)部功能變化不必同步，判讀分別呈現(xiàn)兩類事實(shí)，不用其中一種正常代替另一種。局部變形及光學(xué)變化需結(jié)合支承、內(nèi)部空間和裝配狀態(tài)分析，接受比較按受控2005版確認(rèn)，不從外殼材料名稱推定載荷，也不擴(kuò)展成全部機(jī)械防護(hù)評價。

沖擊

機(jī)械沖擊先明確盒體安裝、作用區(qū)域和光學(xué)基線，受試對象不是電壓沖擊絕緣路徑。沖擊器與支承安排來自受控方法，命中位置在試前標(biāo)記，不能把偶然運(yùn)輸?shù)涞默F(xiàn)場照片當(dāng)作規(guī)定沖擊試驗記錄。

實(shí)際作用過程中關(guān)注命中是否準(zhǔn)確及殼體瞬態(tài)變化，測量引線布置避免附加牽拉或被沖擊器碰撞。測量連接是否受到直接碰撞在過程觀察中單列，連接端異常不直接當(dāng)作盒內(nèi)光纖傳輸變化。能量、次數(shù)和方向先核清，不以盒體重量或使用場所名稱推定條件，也不隨意增加測試來代替原程序。

保存作用設(shè)置、命中證據(jù)及光學(xué)變化時序，試后觀察殼體、托盤和進(jìn)纜接口。一次作用后的檢查按原程序完成，再安排下一步，不能因外觀無損就跳過規(guī)定功能或界面檢查。偏擊或裝置干涉先核查有效性，源版規(guī)定的密封或功能復(fù)核有獨(dú)立記錄，不能只憑外表未破裂就認(rèn)定內(nèi)部功能沒有變化。

異常分析需區(qū)分局部殼體損傷、內(nèi)部件位移及引線擾動，觀察事實(shí)不直接等于某種設(shè)計缺陷原因。實(shí)際命中偏離的結(jié)果保留有效性說明，補(bǔ)測不能把偏擊記錄刪除后讓程序看似從未偏離。一次規(guī)定沖擊覆蓋的是特定作用模式，不推算現(xiàn)場全部墜物或碰撞情景，受控版條件與接受規(guī)則保持一致。

彎曲

接頭盒彎曲關(guān)注進(jìn)纜及連接界面在規(guī)定構(gòu)型中的響應(yīng)，與金屬單線彎曲不同。試前標(biāo)記盒體、固定端和彎曲端位置，盤纖與光學(xué)基線保持可追溯，使試后變化能對應(yīng)實(shí)際接口而非另一根進(jìn)纜。

支承和彎曲安排按受控方法建立，操作不附加未經(jīng)規(guī)定的拉力或扭轉(zhuǎn)，光學(xué)引線保留足夠活動范圍。固定端旁設(shè)置相對位置參照，接口轉(zhuǎn)動與進(jìn)纜滑移分開觀察，機(jī)器運(yùn)動不等于有效受彎幾何。芯軸或幾何條件需要原版確認(rèn)，不能套用整根OPGW彎曲要求，也不能從進(jìn)纜直徑自行反推半徑。

過程觀察接口位移、外層狀態(tài)和確認(rèn)的光學(xué)響應(yīng)，前后照片顯示同一構(gòu)型參照。拆取后的新增擦痕與加載中可見損傷分開標(biāo)注，不能補(bǔ)寫缺少過程記錄的裂口形成時刻。卸載后的恢復(fù)與載荷下表現(xiàn)分別記錄，若固定端出現(xiàn)局部壓傷，應(yīng)先檢查夾具而非立即歸為有效彎曲區(qū)損傷。

彎曲結(jié)果依賴進(jìn)纜結(jié)構(gòu)、固定方式和內(nèi)部余纖安排，不能從一個正常結(jié)果證明所有現(xiàn)場走線方式適用。若光學(xué)變化隨引出線移動出現(xiàn)，先核查測量布置，不在未排除附加彎曲前命名盒內(nèi)盤纖問題。異常結(jié)合接纜松動、盤纖變化和裝置影響分析，受控2005版的次數(shù)及后續(xù)檢查組合不跨對象移用。

扭轉(zhuǎn)

扭轉(zhuǎn)需要記錄接頭盒與進(jìn)纜固定關(guān)系、初始角度參照和內(nèi)部盤纖狀態(tài)，受力對象不能含糊。它不等同銅包鋼單線扭轉(zhuǎn)至破壞，方法中的角度或扭矩控制方式需先由受控2005版核對后配置。

固定端和轉(zhuǎn)動端安排使作用進(jìn)入規(guī)定接口，施加中監(jiān)視實(shí)際轉(zhuǎn)動、纜夾狀態(tài)及確認(rèn)的光學(xué)量。實(shí)際轉(zhuǎn)動量由對應(yīng)標(biāo)記或測量鏈確認(rèn)，夾具空轉(zhuǎn)和連接滑移分別記錄，不憑裝置指令值替代響應(yīng)。引出線不應(yīng)阻礙運(yùn)動或先承受附加扭轉(zhuǎn)，夾具自身滑移也不能誤認(rèn)為受試進(jìn)纜已達(dá)到規(guī)定轉(zhuǎn)動狀態(tài)。

施加記錄與光學(xué)時序相連，卸載后檢查接口、密封面和內(nèi)部布局，保留前后同參照圖像?；謴?fù)后接口位置與初始參照對照，發(fā)生松動時保留原樣，不先擰緊再判斷是否存在產(chǎn)品變化。若出現(xiàn)接纜松動，應(yīng)區(qū)分夾具夾持失穩(wěn)、產(chǎn)品固定變化和盤纖扭曲，不把這些不同機(jī)制統(tǒng)一寫成材料扭轉(zhuǎn)不合格。

該項目解釋規(guī)定連接配置的響應(yīng)，不由轉(zhuǎn)動量直接推算現(xiàn)場長期抗扭壽命。轉(zhuǎn)動量和光學(xué)響應(yīng)不一致時先查運(yùn)動是否進(jìn)入規(guī)定接口，不能為獲得預(yù)期變化而追加未確認(rèn)的動作。角度、次數(shù)或扭矩數(shù)值來自受控文本，源表條款照錄不代表已逐條核驗，接頭盒與整纜的同名試驗條件也不能互換。

溫度循環(huán)

溫度循環(huán)需要在固定接頭盒裝配下建立光學(xué)基線，并記錄密封、進(jìn)纜與托盤的原始狀態(tài)。箱內(nèi)環(huán)境和代表性受試件溫度分別關(guān)注，不能把設(shè)定曲線當(dāng)作所有部件已同步達(dá)到相同溫度的證據(jù)。

升降溫、停留和循環(huán)程序按受控方法確認(rèn)，進(jìn)出光纖的布置不破壞原密封或形成附加彎曲。代表性溫度感知位置與盒體布置記錄，升降溫滯后可影響比較節(jié)點(diǎn)，不能僅用空氣溫度替代樣品狀態(tài)。光學(xué)測量節(jié)點(diǎn)與實(shí)際溫度過程對應(yīng)，循環(huán)中監(jiān)測和恢復(fù)后測量是不同狀態(tài)，不能混入一組無節(jié)點(diǎn)說明的數(shù)據(jù)。

保存溫度時間線、光學(xué)變化和恢復(fù)后界面圖像，異常節(jié)點(diǎn)可與接口熱脹冷縮、盤纖或連接變化交叉核對?；謴?fù)測量的參考連接保持不變，重新插拔引出光纖造成的變化與溫變過程讀數(shù)分開說明。儀器及引線溫度漂移先檢查，讀數(shù)變化不直接證明盒內(nèi)光纖出現(xiàn)材料損傷。

循環(huán)結(jié)果覆蓋規(guī)定溫變過程，不替代持續(xù)高溫、浸水或全部戶外年限評價。中斷循環(huán)和補(bǔ)做過程單列，不能無記錄地把不連續(xù)過程合并成完整程序，熱歷史仍需追溯。異常先排查試樣實(shí)際溫度與測量穩(wěn)定性，再討論裝配因素，原版未核驗的溫差、次數(shù)和停留數(shù)值不憑使用環(huán)境猜定。

持續(xù)高溫

持續(xù)高溫評價固定裝配在確認(rèn)溫度停留中的響應(yīng)，與反復(fù)溫度循環(huán)不是同一過程。初始光學(xué)、密封件和內(nèi)部托盤狀態(tài)記錄清楚，樣品是否經(jīng)歷過此前機(jī)械試驗也需說明，避免預(yù)損傷混入高溫比較。

箱內(nèi)布置關(guān)注受試件實(shí)際溫度和進(jìn)出光纖走向，固定方式不附加拉力或約束。對照測量系統(tǒng)的溫度敏感性先檢查，受試件變化與設(shè)備漂移應(yīng)有證據(jù)區(qū)分，不任意相互扣除。停留起點(diǎn)及恢復(fù)狀態(tài)由受控程序確認(rèn)，不能只看箱體顯示時間；溫度和時段也不由盒體材料或線路使用地點(diǎn)推定。

溫度曲線與過程光學(xué)數(shù)據(jù)保存，恢復(fù)后觀察接口、密封材料和內(nèi)部布局，前后記錄采用相同參考。測量連接若在恢復(fù)期間重接，保留操作節(jié)點(diǎn)，不能把接觸改善后的讀數(shù)解釋為材料自行恢復(fù)。若讀數(shù)隨儀器環(huán)境溫度變化，先排查測量漂移，不能將其全部歸入受試盒體在高溫中的功能變化。

高溫異?？赡苌婕安牧宪浕?、界面應(yīng)力或盤纖布局，但原因需結(jié)合實(shí)際證據(jù)分析。原安裝與修復(fù)后安裝分開評價，試后額外緊固或更換密封件的結(jié)果不倒寫為原高溫響應(yīng)。一次停留試驗不能換算長期壽命，2005版接受規(guī)則和后續(xù)檢查組合保持受控，不能借替代溫度循環(huán)結(jié)論擴(kuò)大評價范圍。

振動

振動試驗的安裝支架和進(jìn)纜固定直接影響響應(yīng)，準(zhǔn)備時記錄盒體方位、托盤和余纖布局及光學(xué)基線。不能只把盒體放在振動臺上就認(rèn)為與規(guī)定安裝一致，臨時固定改變剛度也會改變受試含義。

施加方向、響應(yīng)監(jiān)測和程序按受控版核對，傳感器位置支持實(shí)際輸入和受試響應(yīng)的判斷。輸入位置和受試響應(yīng)分別監(jiān)測，臺面指令不能直接代表盒體實(shí)際響應(yīng)，夾具共振也須有記錄。光學(xué)引線留有合理活動余量，不約束盒體或被臺面牽拉；中斷、裝置偏離及共振線索在過程記錄中明確標(biāo)識。

實(shí)際振動響應(yīng)與光學(xué)變化形成同步時間線，試后復(fù)核螺接、進(jìn)纜固定和托盤狀態(tài)，保留與初裝對應(yīng)的圖像。試后松動件在復(fù)核前保持原狀，不能先補(bǔ)緊再拍照，使振動導(dǎo)致的連接變化失去證據(jù)。若只看到光學(xué)變化，應(yīng)先檢查引線及測量參考，再追查內(nèi)部微彎或連接松動線索。

振動結(jié)果依賴指定支承和作用程序，不能推廣成所有線路氣象載荷已覆蓋。只有過程光學(xué)異常而試后恢復(fù)時仍需保留時序，不能以恢復(fù)后的正常讀數(shù)刪除加載期間變化。異常要分開支架、安裝、內(nèi)部盤纖及儀器影響，頻率、幅度和時段不從盒體名稱猜定，接受比較仍須對應(yīng)受控2005版要求。

YD/T814.2-2005接頭盒核驗應(yīng)讓裝配基線、機(jī)械環(huán)境作用與試后檢查能夠銜接。向上海復(fù)興復(fù)華檢測咨詢時，可提交盒體型號、OPGW進(jìn)纜資料和接續(xù)布局，逐項確認(rèn)十二項檢測安排。接口、光纖和密封各有獨(dú)立證據(jù)，不能以外觀完好替代功能評價，也不把源表括號未經(jīng)核實(shí)改寫成新版本結(jié)論。