金線高度測量顯微鏡 UNION測量顯微鏡-閨蜜 小說 txt-國產(chǎn)精品黑料在線
- 報(bào)價(jià)
- 請來電詢價(jià)
- 聯(lián)系手機(jī)
- 15989565652
- UNION
- 高度測量誤差1微米
品牌:UNION HISOMET 系列 型號DHII 產(chǎn)地:日本 非接觸式深度測量工具顯微鏡UNION顯微鏡 UNION測量顯微鏡 金線高度測量顯微鏡
Z軸測量誤差：1微米 (40×) 讀數(shù)精度0.1微米
日本Union HISOMET DHII高精度非接觸深度測量顯微鏡
采用光學(xué)和非接觸方法探測焦距的方法，測量不會(huì)給樣品造成變形或劃痕等影響，這些往往是采用物理性接觸測量時(shí)產(chǎn)生的。基于目標(biāo)分光方法原理的精密聚焦指示器的應(yīng)用，以簡單地把兩個(gè)目標(biāo)標(biāo)志部分重合起來進(jìn)行高精度的測量
功能：
非接觸測量微細(xì)的撞擊、臺(tái)階等。
◎通過高精度的光學(xué)聚焦點(diǎn)檢測和的聚焦指示器完成高的測量
◎簡單的操作
◎Z軸測量行程可從幾個(gè)μm 到25mm
◎同時(shí)還可以完成測量點(diǎn)的表面觀察
HISOMET系列工具顯微鏡為一專業(yè)X、Y、Z軸座標(biāo)測量顯微鏡，X、Y工作臺(tái)行程由100*200mm到大行程500*500mm，放大倍數(shù)由5至1000×。為求提高工件在Z軸深度/高度測量時(shí)的精度，Z軸對焦采用一專利光學(xué)“裂像指示器”，結(jié)合精密的Z軸“Cross Roller Bearing”導(dǎo)軌，可測范圍25 mm，測量誤差1μm
技術(shù)規(guī)格
型號：DHII
工作臺(tái)行程：100*200mm/150*300mm/500*500mm
Z軸測量范圍：25mm/25mm/25mm
三軸分解度：0.001mm
標(biāo)準(zhǔn)目鏡：10X
標(biāo)準(zhǔn)物鏡：10X
物鏡:
5倍,10倍,20倍,50倍
選配: 100×
用戶:松下,SONY,UATC,NXP,JABILL,SCC,長電,航天8358,兵器工業(yè)集團(tuán),中鋁洛銅,華為,STS,BYD，太極，日月光盛元，富滿，康姆等等 90%的半導(dǎo)體廠都是用這品牌
dage4000; ths-10,mfm1200;芯片開封機(jī)；超聲波掃描顯微鏡；芯片開蓋機(jī)；union測量顯微鏡 ；防爆片測厚儀；激光開封機(jī)；
電子產(chǎn)品、電子檢測設(shè)備、機(jī)電設(shè)備、化工產(chǎn)品的購銷（以上不含易燃、易爆、危險(xiǎn)化學(xué)品）；信息咨詢（不含職業(yè)介紹及其他國家禁止、限制項(xiàng)目）；國內(nèi)貿(mào)易（法律、行政法規(guī)、國務(wù)院決定規(guī)定在登記前須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目除外）；貨物及技術(shù)進(jìn)出口（法律、行政法規(guī)禁止的項(xiàng)目除外，法律、行政法規(guī)限制的項(xiàng)目須取得許可后方可經(jīng)營）。
深圳克拉克貿(mào)易有限公司從事可靠性測試設(shè)備的銷售和測試服務(wù)。一、電子行業(yè)的失效分析設(shè)備銷售及測試服務(wù)芯片分析手段匯總（xray,SAT,DECAP,Bond Tester,SEM,Laser Decapsulator)1.)激光開蓋機(jī) 激光開封機(jī) IC開蓋 芯片開蓋 IC開蓋,時(shí)間約30秒左右,特別是銅引線封裝有很好的開封效果.(用戶長電,蘋果)2)日本UNION HISOMET顯微鏡 測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于1...