光學(xué)薄膜是由薄層介質(zhì)構(gòu)成的光學(xué)材料，通過調(diào)控光束在界面處的反射、透射及偏振特性實現(xiàn)特定光學(xué)功能，其檢測涵蓋光學(xué)性能、物理特性及環(huán)境適應(yīng)性三大維度。檢測方法包括分光光度計光譜掃描、激光干涉儀厚度測量、積分球霧度分析及環(huán)境試驗箱加速老化測試等，技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)涵蓋國際ISO、國標(biāo)GB及行業(yè)規(guī)范，為光學(xué)薄膜的設(shè)計優(yōu)化與質(zhì)量管控提供科學(xué)依據(jù)。

我們的優(yōu)勢：

【技術(shù)人才】：擁有超過700名人員，其中技術(shù)團隊90%以上畢業(yè)于國家“985”“211”等重點高校，具有碩士、博士學(xué)位。

【儀器設(shè)備】：500余臺（套）儀器設(shè)備，包括紅外光譜（IR）、核磁共振（NMR）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體發(fā)射質(zhì)譜儀（ICP-MS）、液相二級質(zhì)譜（LC-MS-MS）、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）、高效液相色譜（HPLC）、氣相色譜儀（GC）、X射線熒光光譜(XRF)等。

【資質(zhì)認(rèn)可】：獲得中國合格評定國家認(rèn)可委員會頒發(fā)的實驗室認(rèn)可證書（CNAS）、質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局頒發(fā)的檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書（CMA）。

【服務(wù)客戶】：累計為公檢法單位、高校及科研機構(gòu)、企業(yè)等超過10萬家客戶提供咨詢、分析、檢測、測試、鑒定研發(fā)等技術(shù)服務(wù)。

光學(xué)薄膜檢測項目包括：

透光率、反射率、吸收率、折射率、厚度均勻性、表面粗糙度、附著力、硬度、耐磨性能、耐腐蝕性能、耐溫性能、耐濕性能、光譜特性、偏振特性、應(yīng)力分布、缺陷密度、環(huán)境穩(wěn)定性等。

檢測范圍有：

增透膜、反射膜、濾光膜、分光膜、偏振膜、相位膜、保護膜、導(dǎo)電膜、裝飾膜、熱控膜、激光膜、干涉濾光片、窄帶濾光片、寬帶濾光片、截止濾光片等。

檢測周期：

到樣后5-7個工作日（可加急），具體需咨詢工程師。

檢測標(biāo)準(zhǔn)參考：

1、GB/T 26331-2010 光學(xué)薄膜元件環(huán)境適應(yīng)性試驗方法

2、GB/T 26332-2010 光學(xué)薄膜元件通用技術(shù)條件

3、HG/T 4185-2022 聚乙烯醇光學(xué)薄膜

4、GB/T 26332.8-2022 光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第8部分：激光光學(xué)薄膜基本要求

5、GB/T 34261-2017 偏光片用光學(xué)薄膜 抗劃傷的測試

6、GB/T 40293-2021 紅外硫系光學(xué)薄膜折射率測試方法

7、GB/T 26331-2010 光學(xué)薄膜元件環(huán)境適應(yīng)性試驗方法

檢測流程：

1、和客服溝通需求，安排工程師進行對接

2、根據(jù)情況進行寄樣，支持上門取樣

3、對樣品進行初步分析，很具客戶需求，進行樣品檢測

4、進行實驗檢測，得出實驗數(shù)據(jù)，出具檢測報告

復(fù)達檢測歡迎您的咨詢，我們會有人員為您一對一進行解答，服務(wù)面向全國各地。